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                  郡仁司

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                  老化座助力客戶完成芯片老化測試工作

                  文章出處:常見問題 責任編輯:東莞市郡仁司電子科技有限公司 發表時間:2021-01-25
                    

                  隨著電子產品更新換代速度的加快,消費者對產品的挑剔不僅僅局限于產品的外觀,對電子產品內在的質量、穩定性也有了諸多要求。而芯片在電子產品中如同心臟一般起著至關重要的作用。一顆芯的好壞,直接影響著電子產品的使用壽命。所以,現在的芯片在封裝好出廠前,芯片廠商都還會再進行嚴密的溫度加速老化和HAST的溫濕度老化測試。

                  老化HTOL【High Temperature Operating Life】,就是在高溫下加速芯片老化,然后估算芯片壽命。還有HAST【Highly Accelerated Stress Test】測試芯片封裝的耐濕能力,待測產品被置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試,濕氣是否會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體從而損壞芯片。

                  老化座

                  芯片老化座在芯片的HTOL和HAST老化試驗起著重要的作用。它能夠幫助芯片在嚴苛的測試環境下很好的接觸,從而完成測試工作。鴻怡電子生產的IC老化座,在老化座市場具有極高的占有率。無論是價格還是產品的多元化上,都是客戶的不二之選。目前,我們的IC老化座,針對市面上的統用標準型IC,會采用現貨的開模彈片來制作。而針對非常規類芯片的老化測試,可使用探針的方式.一切以為穩定測試、降低成本為主要宗旨。

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