集成電路老化測試座該產品用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產企業,可配進口老化臺、老化板做器件及高、低溫測試、老化篩選作連接之用: 產品型號及規格; IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J(K)寬跨度、IC-40J主要技術指標; 間距;2.54mm 環境溫度;-55℃—+155℃ 絕緣電阻;≤0.01歐 工作電壓;DC500V 單腳插入力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;2umAu:lu(鎳金) 插拔壽命;高低溫狀態下插拔壽命;2000-3000次。
TO封裝集成電路老化測試插座該插座用于金屬殼封裝集成電路的老化、測試、篩選作連結之用,連結金屬管材料采用磷青銅表面鍍金、 鍍銀、鍍鎳等工藝,該插座耐高溫、絕緣性能好,經久耐用,深受用戶的歡迎。 產品型號及規格; TO-4、6、8、10、12 主要技術指標; 環境溫度;-20℃—+255℃ 接觸電阻;≤0.01歐 工作電壓;DC500V 單腳插入力;≤0.2Kg 磷青銅管鍍銀層厚度;1um鎳2um銀 高低溫狀態下插拔壽命;2000-3000次。
IC集成電路老化測試座(DIP封裝) 詳細介紹:
集成電路老化測試座該系列夾具適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產品廣泛運用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊產品型號及規格; IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J(K)寬跨度、IC-40J 主要技術指標; 間距;2.54mm環境溫度;-55℃—+155℃ 接觸電阻;≤0.01歐工作電壓;DC500V 單腳插入力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;1um鎳2um金插拔壽命;高低溫狀態下插拔壽命;2000-3000次。
IC老化測試座:
該產品用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產企業,可配進口老化臺、老化板做器件及高、低溫測試、老化篩選作連接之用:
產品型號及規格;
IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J(K)寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J(K)寬跨度、IC-40J
主要技術指標;
間距;2.54mm 環境溫度;-55℃—+155℃
絕緣電阻;≤0.01歐工作電壓;DC500V
單腳插入力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;2umAu:lu(鎳金)
插拔壽命;高低溫狀態下插拔壽命;2000-3000次