集成電路老化測試座該產品用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產企業，可配進口老化臺、老化板做器件及高、低溫測試、老化篩選作連接之用: 產品型號及規格； IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J（K）寬跨度、IC-40J主要技術指標； 間距；2.54mm 環境溫度；-55℃—+155℃ 絕緣電阻；≤0.01歐 工作電壓；DC500V 單腳插入力；≤0.2Kg 彈片金層厚度；2umAu:lu(鎳金） 插拔壽命；高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次。

TO封裝集成電路老化測試插座該插座用于金屬殼封裝集成電路的老化、測試、篩選作連結之用，連結金屬管材料采用磷青銅表面鍍金、 鍍銀、鍍鎳等工藝，該插座耐高溫、絕緣性能好，經久耐用，深受用戶的歡迎。 產品型號及規格； TO-4、6、8、10、12 主要技術指標； 環境溫度；-20℃—+255℃ 接觸電阻；≤0.01歐 工作電壓；DC500V 單腳插入力；≤0.2Kg 磷青銅管鍍銀層厚度；1um鎳2um銀 高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次。

IC集成電路老化測試座（DIP封裝） 詳細介紹:

集成電路老化測試座該系列夾具適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產品廣泛運用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊產品型號及規格； IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J（K）寬跨度、IC-40J 主要技術指標； 間距；2.54mm環境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐工作電壓；DC500V 單腳插入力；≤0.2Kg 彈片金層厚度；1um鎳2um金插拔壽命；高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次。

IC老化測試座：

該產品用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產企業，可配進口老化臺、老化板做器件及高、低溫測試、老化篩選作連接之用:

產品型號及規格；

IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J（K）寬跨度、IC-40J

主要技術指標；

間距；2.54mm 環境溫度；-55℃—+155℃

絕緣電阻；≤0.01歐工作電壓；DC500V

單腳插入力；≤0.2Kg 彈片金層厚度；2umAu:lu(鎳金）

插拔壽命；高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次