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                  郡仁司

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                  IC測試/燒錄/老化

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                  IC測試座的特征體現在哪?

                  文章出處:公司新聞 責任編輯:東莞市郡仁司電子科技有限公司 發表時間:2021-01-25
                    

                  IC測試座主要就是用於檢查在線的單個IC元器件以及各電路網絡的開、短路情況,以及模擬器件作用和數字器件邏輯作用測試。用戶就是測試期間在惡劣的環境條件下能完全實現設計規格書所規定的作用及性能指標。簡單點的說就是測試芯片的合格程度。

                  用于IC封裝后的測試的IC測試座,主要包含有互相組配的上蓋板(contactblade)與基座(icsocket)。IC測試座在較佳的實施狀態中,是用于影像傳感器(ImageSensor)中的陶瓷式引線芯片載體的封裝測試。

                  IC測試座的特征在于上蓋板(contactblade)的內部容設有一通孔,并在鄰近通孔附近設置有復數個測試探針,用以接觸待測IC,且在各測試探針的內部則容設有測試彈簧。測試探針是以環繞通孔的方式設置。

                  測試座

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